第36回エレクトロテストジャパンで「画像処理検査」をご紹介｜セミナー・展示会情報

第36回エレクトロテストジャパンで「画像処理検査」をご紹介

当展示会は終了しました。

第36回エレクトロテストジャパン「非破壊検査ゾーン」に、画像検査ソフトウェア群「URCP」を出展いたします。
ソフトウェア開発、光学選定～システムアップまで一貫して対応しております。また、お客様の仕様に合わせてカスタム対応も承っております。
ご来場の際には、お気軽にブースにお立ち寄り下さい。

開催日時	2019年1月16日（水）～18日（金） 10：00 ～ 18：00（最終日は17：00まで）
会場	東京ビッグサイト東2ホール（小間番号： E19-11（非破壊検査ゾーン））東京都江東区有明3-11-1 会場へのアクセス等はこちらから
出展内容	ラインセンサカメラ搭載パターン外観検査デモ超高解像度画像を撮像し、オープン・ショート・欠け・異物・凹凸などの各種欠陥を高精度に検出する検査システムです。密着イメージセンサ外観検査システム密着イメージセンサ（CIS：Contact Image Sensor）は、センサ、正立等倍レンズ、照明を1つのパッケージに収めた読み取りデバイスです。端部の画像の歪がないため、幅広なワークでも解像度の均一性が高いカラー画像検査が可能となります。近赤外画像外観検査システム光電素子にインジウム、ガリウム、砒素を用いたフォトダイオードで、900～1,700nmの波長帯においてすぐれた感度特性があり、光通信や近赤外波長の光検出用途に最適です。
入場料	無料（事前登録制） ※来場を希望される方は、こちらのフォームからご連絡ください。当社より招待券を送付させていただきます。
公式HP	第36回エレクトロテストジャパン

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