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第36回エレクトロテスト ジャパンで「画像処理検査」をご紹介

第36回エレクトロテスト ジャパン「非破壊検査ゾーン」に、画像検査ソフトウェア群「URCP」を出展いたします。
ソフトウェア開発、光学選定~システムアップまで一貫して対応しております。 また、お客様の仕様に合わせてカスタム対応も承っております。
ご来場の際には、お気軽にブースにお立ち寄り下さい。

関連商品:画像処理検査

開催日時 2019年1月16日(水)~18日(金) 10:00 ~ 18:00(最終日は17:00まで)
会場 東京ビッグサイト 東2ホール(小間番号: E19-11(非破壊検査ゾーン))
東京都江東区有明3-11-1
会場へのアクセス等はこちらから
出展内容 ラインセンサカメラ搭載 パターン外観検査デモ
超高解像度画像を撮像し、オープン・ショート・欠け・異物・凹凸などの各種欠陥を高精度に検出する検査システムです。

密着イメージセンサ 外観検査システム
密着イメージセンサ(CIS:Contact Image Sensor)は、センサ、正立等倍レンズ、照明を1つのパッケージに収めた読み取りデバイスです。端部の画像の歪がないため、幅広なワークでも解像度の均一性が高いカラー画像検査が可能となります。

近赤外画像 外観検査システム
光電素子にインジウム、ガリウム、砒素を用いたフォトダイオードで、900~1,700nmの波長帯においてすぐれた感度特性があり、光通信や近赤外波長の光検出用途に最適です。
入場料 無料(事前登録制)

※来場を希望される方は、こちらのフォームからご連絡ください。当社より招待券を送付させていただきます。

公式HP 第36回エレクトロテスト ジャパン

お問い合わせ先(事務局)

株式会社宇部情報システム ソリューション営業部(担当:橋本)
〒530-0003 大阪市北区堂島1-6-20 堂島アバンザ20階
TEL:06-6346-3289

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