seminar/exhibition
第38回エレクトロテスト ジャパンに画像処理検査「URCP」を出展（2024/1/24～26東京）
関連商品：画像処理検査
| 会期 | 2024年1月24日（水）～26日（金）10：00～17：00 |
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| 会場 | 東京ビッグサイト 東 展示棟（ブース小間位置：E14-26（本多電子株式会社と共同出展）） 東京都江東区有明3-11-1 会場へのアクセス等はこちらから |
| 出展内容 | 画像処理検査「URCP」 製品検査におけるご要望に合わせて、欠陥検出に必要な光学機器・条件や、検査方法・ソフトの選定と必要に応じたカスタマイズ、検査装置の設計・組立・納品を一気通貫でご提供します。当社の提供するソリューションを実機で確認いただけ貴重な機会であり、専門スタッフも常駐しますので、是非ともご来場ください。 【出展予定製品】 ・パターン外観検査装置 製品の微細化に伴い、微細化する同一配列パターンに特化した検査手法・処理を標準装備。過検出を抑制し、高精度な良否判定を実現します。 ・大型テレセントリックカメラ検査装置 30mm X 30mmの大型基板などを１度に撮像できます。被写界深度が高いため、目視で確認している大型実装基板の部品の向きや間隔などの検査が可能です。 ・フィルム・シート検査装置 ロール状のフィルム・シートを検査する装置です。密着イメージセンサ（CIS）を用いてワーク全幅を均一に撮像し、製品の汚れや異物、凹凸、キズなどの欠陥検査が可能です。 ・超音波探傷映像装置（本多電子株式会社出展製品） 共同出展社である本多電子株式会社の超音波を用いた素材内部の非破壊検査装置です。 モード画面（A・B・Cスコープ）同時表示により欠陥判定が容易です。対象物に合わせて探触子や周波数なども選択可能です。 |
| 入場料 | 招待券がある場合のみ無料 電子版の招待券（e-招待券）をぜひご利用ください。 ※お一人様一枚必要。人数分プリントアウトして頂くか、画面をお見せください。 |
| 公式HP | 第38回エレクトロテスト ジャパン |
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株式会社宇部情報システム 営業企画部（担当：黒田）
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