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セミナー・展示会情報

エレクトロテスト ジャパンで画像処理検査「URCP」をご紹介

エレクトロニクスの多機能化・高性能化を支える、最新の検査・測定・試験装置が出展される「エレクトロテスト ジャパン」に画像処理検査「URCP」を出展いたします。

画像処理検査[URCP]は、要望に合わせて、欠陥検出に必要な光学機器・条件や、検査方法・ソフトの選定と必要に応じたカスタマイズ、検査装置の設計・組立・納品を【オールインワン】でご提供します。当社の提供するソリューションを実機で確認いただける貴重な機会であり、専門スタッフも常駐しますので、ぜひともご来場ください。

関連商品:画像処理検査

 
開催日時 2023年1月25日(水)~ 27日(金) 10:00 ~ 17:00
会場東京ビッグサイト(ブースNo.:15-26)
東京都江東区有明3-11-1
会場へのアクセス等はこちらから
出展内容

【出展予定製品】

  • リニア搬送デモ機
    リニアモジュールを用いた搬送機に、汎用性の高い4種類の検査システムを搭載している大型検査デモ装置です。従来装置では難しかった、高精度・高メンテナンス性・柔軟なライン構築が実現可能です。
  • ラインカメラ特殊撮像評価機
    複数の照明効果の画像を1度で取得可能な1トリガー3スキャンシステムを搭載しております。これにより、高速化や精度向上、コスト削減、省スペース化に貢献し、高精度な外観検査をご提供します。
  • 超音波探傷映像装置(本多電子株式会社出展製品)
    共同出展社である本多電子株式会社の超音波を用いた素材内部の非破壊検査装置です。
    3モード画面(A・B・Cスコープ)同時表示により欠陥判定が容易です。対象物に合わせて探触子や周波数なども選択可能です。
入場料 招待券がある場合のみ無料
便利な電子版の招待券(e-招待券)をぜひご利用ください。

※お一人様一枚必要。人数分プリントアウトして頂くか、画面をお見せください。

公式HP 第37回エレクトロテスト ジャパン

お問い合わせ先(事務局)

株式会社宇部情報システム 営業企画部(担当:黒田)

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