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外観検査システムの課題と限界〜微細かつ複雑な欠陥の検知精度と、インテグレーションの難しさ〜

外観検査システムの課題と限界〜微細かつ複雑な欠陥の検知精度と、インテグレーションの難しさ〜

ハードウェアとソフトウェアの両面から画像処理検査を【最適化】

■導入が進む、外観検査システム 外観検査装置や付随するシステムを示す「検査アプリケーション」の市場は年々拡大しており、2025年には、現在の1.5倍である1兆5,000億円規模になると予測されております。一般的に、外観検査システムを導入することで、検査レベルの精度向上や、工程の自動化、省人化による効率化などのメリットがあり、製品品質の向上、タクトタイムの短縮、人員コストの低減が実現出来ます。

■外観検査システムの課題 製造業の現場では、年々顧客への品質要求は高度化しており、その中でも、とりわけ微細欠陥の検出要求レベルは毎年高まっていると言われております。
しかしながら、検査精度の向上には、光学機器・条件やソフトウェアなどの様々な角度から検証が必要です。更に、検査タクトなどの要望を満たす為には、デバイス、ソフトウェア、搬送システムなどを検査対象毎にトータルで最適化する必要があります。

■顧客の要求品質に対して柔軟に対応可能な検査プラットフォーム 今回のセミナーでは、汎用の検査装置では検知できない微細で複雑な欠陥について、実際に当社が行ってきた事例を元に、具体的な検知技術をご紹介させていただきます。
例えば、

  • 線状の微細かつ複雑な欠陥の検出方法
  • 浅い傷や打痕など一つの照明では検出できない様々な欠陥の検出方法
など、検査ソフトの自社開発から、検査装置の設計〜組立〜納品まで「一気通貫」で対応できるからこそ、培ってきた技術についてお伝えします。

すでに外観検査を導入された企業様で、検知精度に課題を持たれている方、これから検知精度の向上を検討される方、まだ外観検査を導入されていない企業様でも、自社の欠陥がどこまで検知できるのか知りたい、といった方に特におすすめです。

関連製品:画像処理検査URCP

開催日時 2023年3月10日(金)10:00〜11:00
会場 オンライン
対象 ・製造業の生産技術担当者様
・外観検査に課題をお持ちの方
・外観検査技術に興味のある方
お申込み方法

当セミナーの受付は終了しました。

参加費 無料
定員 100名

セミナー内容

9:45〜10:00
受付
10:00〜10:05

オープニング(マジセミ)

10:05〜10:45

外観検査システムの課題と限界〜微細かつ複雑な欠陥の検知精度と、インテグレーションの難しさ〜

10:45〜11:00

質疑応答

お問い合わせ先(事務局)

株式会社宇部情報システム 営業企画部(担当:黒田)
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