seminar/exhibition
第39回エレクトロテストジャパンに画像処理検査「URCP」を出展（2025/1/22～24東京）
関連商品：画像処理検査
| 会期 | 2025年1月22日（水）～24日（金）10：00～17：00 |
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| 会場 | 東京ビッグサイト 東 展示棟（ブース小間位置：E17-19（本多電子株式会社と共同出展）） 東京都江東区有明3-11-1 会場へのアクセス等はこちらから |
| 出展内容 | 画像処理検査「URCP」 製品検査におけるご要望に合わせて、欠陥検出に必要な光学機器・条件や、検査方法・ソフトの選定と必要に応じたカスタマイズ、検査装置の設計・組立・納品を一気通貫でご提供します。当社の提供するソリューションを実機で確認いただける貴重な機会であり、専門スタッフも常駐しますので、是非ともご来場ください。 【出展予定製品】 ・OPTLAC1.0（照明自動調整デモ機） 照明の角度や色（波長）を独自最適化エンジンで自動選定することで安定した不良検出を実現します。 ・オートスキャン3Dセンサ検査デモ機 対象物を止めたまま３Dデータを取得でき、寸法測定、外観検査、形状検査など幅広い検査に適用可能です。 ・密着イメージセンサ(CIS)検査デモ機 ワーク全幅を歪みがなく均一な解像度で検査でき、表面のキズ・汚れ・欠損・色味などの欠陥を検知可能です。 |
| 入場料 | 招待券がある場合のみ無料 電子版の招待券（e-招待券）をぜひご利用ください。 |
| 公式HP | 第39回エレクトロテスト ジャパン |
お問い合わせ先（事務局）
株式会社宇部情報システム 営業企画部（担当：黒田）
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