第33回エレクトロテストジャパンに「画像処理URCP」を出展｜セミナー・展示会情報

第33回エレクトロテストジャパンに「画像処理URCP」を出展

非破壊検査ゾーンに、自社製モジュール「URCP」を出展致します。
ソフト開発、光学選定～システムアップまで一貫して対応しております。また、お客様の仕様に合わせてカスタム対応も承っております。
ご来場の際には、お気軽にブースにお立ち寄り下さい。

開催日時	2016年1月13日（水）～15日（金）10：00～18：00（最終日は17：00まで）
会場	東京ビッグサイト（小間番号：東ホール 15–13）
出展内容	超音波探傷検査 New! 超音波技術を利用し、非破壊にて電子部品内部の欠陥を検出します。パターン外観検査高速・高精度に加え機能を充実させた検査システムです。汎用画像処理装置デスクトップPCレベルの処理性能を備えた汎用画像処理装置です。省スペースでご利用頂けます。 ※デモ機を展示致しますので、実際にご覧頂けます。来場を希望される方は、こちらのフォームからご連絡下さい。当社より入場券を送付させていただきます。
公式HP	第33回エレクトロテストジャパン

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