seminar/exhibition

セミナー・展示会情報

  • ホーム
  • トピックス
  • 第34回エレクトロテスト ジャパンで「画像処理検査」をご紹介

第34回エレクトロテスト ジャパンで「画像処理検査」をご紹介

当展示会は終了しました。

エレクトロテスト ジャパンに、画像検査ソフトウェア群「URCP」を出展いたします。ソフトウェア開発、光学選定~システムアップまで一貫して対応しております。また、お客様の仕様に合わせてカスタム対応も承っております。
ご来場の際には、お気軽にブースにお立ち寄り下さい。

関連商品:画像処理検査

開催日時 2020年1月15日(水)~17日(金) 10:00 ~ 18:00(最終日のみ17:00まで)
会場 東京ビッグサイト(小間番号: 西W2-5)
東京都江東区有明3-11-1
会場へのアクセス等はこちらから
出展内容 全てデモ機を展示します。実際にご覧になって、直接お確かめください。
  • 超音波探傷検査
    超音波技術を利用し、非破壊で検査対象内部の微細な欠陥を検出します。
  • パターン外観検査
    超高解像度画像を高速で撮像し、オープン・ショート・欠け・異物・凹凸などの各種欠陥を高精度に検出するシステムです。
  • その他外観検査
入場料 無料(事前登録制)

※来場を希望される方は、こちらのフォームからご連絡ください。当社より招待券を送付させていただきます。

公式HP 第34回エレクトロテスト ジャパン

お問い合わせ先(事務局)

株式会社宇部情報システム ソリューション営業部(担当:平田)
〒530-0003 大阪市北区堂島一丁目6番20号 堂島アバンザ20階
TEL:06-6346-3289

お問い合わせはこちら