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第35回エレクトロテスト ジャパンに
画像検査ソフトウェア群「URCP」を出展

当展示会は終了しました。

第35回エレクトロテスト ジャパン「非破壊検査ゾーン」に、画像検査ソフトウェア群「URCP」を出展いたします。
ソフトウェア開発、光学選定~システムアップまで一貫して対応しております。 また、お客様の仕様に合わせてカスタム対応も承っております。
ご来場の際には、お気軽にブースにお立ち寄り下さい。

関連商品:画像処理検査

開催日時 2018年1月17日(水)~19日(金) 10:00 ~ 18:00(最終日は17:00まで)
会場 東京ビッグサイト (小間番号:東E32-13)
東京都江東区有明3-11-1
会場へのアクセス等はこちらから
出展内容 超音波探傷検査
超音波技術を利用し、非破壊にて検査対象内部の欠陥を検出します。
本製品のデモ機を展示いたしますので、実際にご覧いただけます。

パターン外観検査
高速・高精度に加え機能を充実させた検査システムです。
本製品のデモ機を展示いたしますので、実際にご覧いただけます。

汎用画像処理装置
デスクトップPCレベルの処理性能を備えた汎用画像処理装置を展示します。
入場料 無料(招待券をお持ちの方)

※来場を希望される方は、こちらのフォームからご連絡ください。当社より招待券を送付させていただきます。

公式HP 第35回エレクトロテスト ジャパン

お問い合わせ先(事務局)

株式会社宇部情報システム ソリューション営業部(担当:橋本)
〒530-0003 大阪市北区堂島1-6-20 堂島アバンザ20階
TEL:06-6346-3289 FAX:06-6346-1423

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